XI810高速分立器件测试系统由四个测量单元组成，通过异步并行测试架构实现高速并行测试和多站测试。具备实时波形采集显示功能和超快速测试能力。提供多种扩展测试选项，以更低的成本满足客户多样化的测试需求。

XI810HP是基于XI810系统平台升级开发的高速分立器件测试系统。它支持双站并行测试。具备实时波形采集显示功能和快速测试能力。提供多种扩展测试选项，以更低的成本满足客户多样化的测试需求。

OS2000E是一个可编程的开/短测试系统，它包含八个256通道的测试模块，多达2048个通道，支持多达八个站点的并行测试，每个站点可以自定义每个引脚的引脚分配和测试条件。通过计算机的USB接口，可以在线完成测试程序的开发和调试，下载运行和监控。测试机下载USB程序后可独立于计算机运行。产品采用一体式设计，模块化结构，自升式结构。

MS737FLEX是MTS自研的一款共地源模拟集成电路测试系统，采用全新的系统架构，拥有丰富的用户资源，是一款高效低成本的测试系统。MS737FLEX测试系统以驱动芯片、电源管理芯片、接口芯片和运算放大器芯片等芯片为测试目标市场。

MS7600是基于MS7000系统平台升级开发的全浮动源架构测试系统。采用支持两个STATION独立并测功能的TWIN结构，拥有丰富的用户资源，具有灵活性、扩展性、易升级、易维护的特点，是一款高效低成本的测试系统。一台测试设备可以同时集成高速数字测试、模拟、高压源、大电流、混合信号和RF射频等测试选件。MS7600测试系统以驱动芯片、电源管理芯片、接口芯片和运放、BMS芯片等芯片为测试目标市场，可以实现两个STATION独立的多SITE并行测试，并测效率高达99.5%以上。MS7600 PLUS版本可以扩充更多的测试资源更多SITE的测试应用。