产品介绍

XI810高速分立器件测试系统由四个测量单元组成，通过异步并行测试架构实现高速并行测试和多站测试。具备实时波形采集显示功能和超快速测试能力。提供多种扩展测试选项，以更低的成本满足客户多样化的测试需求。

 

应用

二极管，齐纳二极管，晶体管，MOSFET，晶闸管，IGBT，电压调节器，光耦

 

特点

新型高速异步测试系统体系结构

可扩展到4种测试头配置，单次和并行测试，可同时连接四台分选机

软硬件功能模块选配：JFET测量模块、动态PAT、漏电流自适配量程、外部仪器控制等软件功能

测试系统包括用于测试电压、电流、漏电流和时间参数的功能部件

电源系统包括电源转换、控制保护、EMC滤波等功能

 

优势

1.高速分立器件测试技术架构。

2.四站独立并行测试能力。

3.高速、高精度，支持UPH 65K/H高速分选机。

4.支持8Pin/12Pin分立器件测试。

 

规格

项目	规格
测试站	最大4（异步）
HVI电压	000.00 V~800.00 V
HVI电流	00,000 mA~50,000 mA
LVI电压	00.00 V~40.00 V
LVI电流	00,000 A~10,000 A
小电流检测量	0.000 uA~1.000 uA
输出分辨率	16 bit
检测分辨率	18 bit
分BIN数	16 BIN
BCD或二进制	200 BIN
测试项目	最多254项
排序项目	最多126项

 

测试选项

选项	规格
pA测试选件	5pA-5nA，精度1pA
Cj测试选件	1.5 MHz，2Vrms，DC 20V

XI810高速分立器件测试系统由四个测量单元组成，通过异步并行测试架构实现高速并行测试和多站测试。具备实时波形采集显示功能和超快速测试能力。提供多种扩展测试选项，以更低的成本满足客户多样化的测试需求。