
产品介绍
XI810HP是基于XI810系统平台升级开发的高速分立器件测试系统。它支持双站并行测试。具备实时波形采集显示功能和快速测试能力。提供多种扩展测试选项,以更低的成本满足客户多样化的测试需求。
应用
二极管、晶体管、MOSFET、IGBT、SCR
特点
·标准配置1500V/50A
·真正的并行测试,2个独立测试头
·支持雪崩测试、电容测试扩展选件
·支持高压、大电流扩展选件
·扫码加载测试程序
·软件插件功能
·日本研发团队设计,稳定可靠
优势
1.高速分立器件测试技术架构。
2.双站独立并行测试能力。
3.高速、高精度,支持UPH 60K/H高速分选机。
规格
项目 |
规格 |
测试站 |
最多2个位置(异步) |
测试项 |
126 |
高压模组 |
00.0000V~±1500.00 V |
低压模组 |
000.00 mV~±40.000 V |
大电流模组 |
0.0000 uA~±50.0000 A |
小电流模组 |
000.00 pA~±10.00 A |
漏电流检测器 |
000.00 pA~±5.00 uA |
测量分辨率 |
16位 |
测试数据格式 |
CSV、STDF、TXT、Xlsx、自定义格式 |
TTL 输出电压 |
+5V/+12V |
TTL输入信号 |
开始,索引 |
TTL输出信号 |
8组,通过\失败\结束\忙 |
TTL分类信号 |
BIN1-16 |
软件功能 |
软件示波器功能 |
外部配置 |
检测盒,校准盒 |
系统功率 |
3kW |
功率器件测试选件
选项 |
规格 |
HC-200A选件 |
200A/30V |
HV-3KV选件 |
20mA/3KV |
关键词
XI810 HP

XI810 HP
XI810HP是基于XI810系统平台升级开发的高速分立器件测试系统。它支持双站并行测试。具备实时波形采集显示功能和快速测试能力。提供多种扩展测试选项,以更低的成本满足客户多样化的测试需求。
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