分立半导体ATE

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XI810

XI810高速分立器件测试系统由四个测量单元组成,通过异步并行测试架构实现高速并行测试和多站测试。具备实时波形采集显示功能和超快速测试能力。提供多种扩展测试选项,以更低的成本满足客户多样化的测试需求。

XI810 HP

XI810HP是基于XI810系统平台升级开发的高速分立器件测试系统。它支持双站并行测试。具备实时波形采集显示功能和快速测试能力。提供多种扩展测试选项,以更低的成本满足客户多样化的测试需求。
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